北京励芯泰思特测试技术有限公司

BC3193半导体分立器件测试系统

BC3193分立器件参数测试系统的测试对象是各种半导体分立器件（二管、整流桥、三管、场效应管、可控硅、IGBT、光电耦合器和达林顿矩阵等）。系统可用于上述器件生产过程中的半导体圆片测试，成品测试，出厂检... ...

BC3199模拟集成电路测试系统

系统主要测试对象：电压调节器、LDO、电压基准、运算放大器、比较器、音频放大器、PWM等模拟器件的参数测试 ...

BC3193TM分立器件时间参数测试系统

测试系统主要测试参数及特点 BC3193TM测试系统主要用于三管、MOS管、光耦等器件的开关参数测试。测试参数包括：开启时间Ton；关断时间Toff；延迟时间Td；存贮时间Ts；上升时间Tr；下降时间Tf等参数。 ...

BC3186 DC/DC模块参数测试系统

BC3186 DC/DC模块参数测试系统是由北京东英泰思特测试技术有限责任公司研制开发的测试系统。该测试系统主要针对DC/DC电源模块的参数测试而设计的，测试系统用于DC/DC的出厂测试、入厂检验和质量控制。它是由... ...

BC3187光电耦合器件测试系统

测试系统用途及主要测试对象测试系统可对半导体分立器件进行测试，可测试的器件类型和参数项如下：光耦： R、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBAT、VCAT、IR、IAKF、IAKR 光敏二、三... ...

BC3185截止频率测试系统

BC3185截止频率测试系统主要用于高频晶体管截止频率FT的测量 ...

BC3198直流固态继电器测试系统

测试系统用途及主要测试参数测试系统可对单向、双向直流固态继电器以及单路、双路和四路直流固态继电器进行测试，可测试的参数项如下：直流固态继电器：输出电流、输出电压、输出接通电阻、输出漏电流、击穿电压... ...

HLTC-128半导体分立器件高低温巡测系统

半导体分立器件高低温巡测系统（以下简称巡测系统）主要用于半导体分立器件在高温150℃、低温-55℃环境中的电性能检测。 ...

MOS管测试仪 BC3193

测试系统用途及主要测试对象：二管，三管，可控硅，场效应管，（IGBT）缘栅双三管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二管，光敏三管，光电耦合器，固态继电器等，DC／DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三... ...